SAM40-8 Ceny (USD) [8ks skladem]
- 1 pcs$3781.96875
- Číslo dílu:
- SAM40-8
- Výrobce:
- Teledyne LeCroy
- Detailní popis:
- SENSOR ACQUISITION MODULE 8 INP. Datalogging & Acquisition SENS ACQUISITION MOD 8 CH FOR 12 BIT HDO
- Standardní dodací lhůta výrobce:
- Na skladě
- Skladovatelnost:
- Jeden rok
- Čip od:
- Hongkong
- RoHS:
- Způsob platby:
-
- Způsob přepravy:
- Rodinné kategorie:
- KEY Components Co., LTD je distributor elektronických součástek, který nabízí kategorie produktů včetně: Zařízení - Osciloskopy, Zařízení - Generátory funkcí, Zkušební vodiče - Jumper, Specialita, Zařízení - Multimetry, Testovací vodiče - Banán, Rozhraní měřiče, Zařízení - Napájecí zdroje (Test, Bench), Testovací svorky - Aligátor, Krokodýl, Heavy Duty and Zařízení - Environmentální testery ...
- Konkurenční výhoda:
- Specializujeme se na elektronické součástky Teledyne LeCroy SAM40-8. SAM40-8 může být dodán do 24 hodin po objednání. Pokud máte jakékoli požadavky na SAM40-8, odešlete zde žádost o cenovou nabídku nebo nám zašlete e-mail: rfq@key-components.com
SAM40-8 Vlastnosti produktu
Číslo dílu :
SAM40-8
Výrobce :
Teledyne LeCroy
Popis :
SENSOR ACQUISITION MODULE 8 INP
Série :
-
Stav části :
Active
Typ nástroje :
Sensor Acquisition Module
Pro použití s / Související produkty :
High Definition Oscilloscope
Poslední zprávy
Můžete se také zajímat
-
-
SI8221CC-D-ISR
Silicon Labs
DGTL ISO 3.75KV GATE DRVR 8SOIC. Gate Drivers 3.75 kV opto input isolated gate driver
-
SI8261ABC-C-ISR
Silicon Labs
DGTL ISO 3.75KV GATE DRVR 8SOIC. Gate Drivers 3.75 kV opto-driver replacement in SOIC8
-
-
-
Horké díly
- TOL-13195
- 240C
- FLK-721EX-3610
- CTK015
- HHTP0000
- 8524-220V
- 520C
- FLUKE-1730/BASIC
- FLUKE-1744/1PH
- USR-250RSF
- 1560
- USR-102SF
- FLUKE-1745
- FLUKE-743B
- DA1855A-RM
- CSR-103
- UAT-620
- FLUKE-1735
- BAT-100
- ATS-1E6
- DV3100
- FLUKE-1750/NT
- AMC-2
- CSR-105
- AMB-6D
- ATS-1E3
- TSAL0001
- 1280B
- 461700
- PA1780
- HMC-T2240
- 2838924
- FLUKE-1750/B/NT
- S2600
- DV1-100
- 32314
- AB934
- MSR-R10
- FLK-721EX-1610
- EARTH-TEST