[6439ks skladem]
- Číslo dílu:
- SN74BCT8240ANTG4
- Výrobce:
- Texas Instruments
- Detailní popis:
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP.
- Standardní dodací lhůta výrobce:
- Na skladě
- Skladovatelnost:
- Jeden rok
- Čip od:
- Hongkong
- RoHS:
- Způsob platby:
-
- Způsob přepravy:
- Rodinné kategorie:
- KEY Components Co., LTD je distributor elektronických součástek, který nabízí kategorie produktů včetně: Logika - Západky, Embedded - Systém na čipu (SoC), Paměť, Rozhraní - Specialized, Ovladače PMIC - brány, Hodiny / časování - IC baterie, Paměť - Řadiče and PMIC - reference napětí ...
- Konkurenční výhoda:
- Specializujeme se na elektronické součástky Texas Instruments SN74BCT8240ANTG4. SN74BCT8240ANTG4 může být dodán do 24 hodin po objednání. Pokud máte jakékoli požadavky na SN74BCT8240ANTG4, odešlete zde žádost o cenovou nabídku nebo nám zašlete e-mail: rfq@key-components.com
SN74BCT8240ANTG4 Vlastnosti produktu
Číslo dílu :
SN74BCT8240ANTG4
Výrobce :
Texas Instruments
Popis :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Série :
74BCT
Stav části :
Obsolete
Typ logiky :
Scan Test Device with Inverting Buffers
Napájecí napětí :
4.5V ~ 5.5V
Počet bitů :
8
Provozní teplota :
0°C ~ 70°C
Typ montáže :
Through Hole
Balíček / Případ :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Balík zařízení pro dodavatele :
24-PDIP
Poslední zprávy
Můžete se také zajímat
Horké díly
- SSTVF16859BS,157
- SSTV16857DGG,518
- PT7C5229C-5GDE
- PT7C5131C-5GWF
- PT7C5038A1-2GWF
- SY100EP16VKG-TR
- MC14490FELG
- SSTUF32864BHLF
- SSTUB32S868CHLF
- SSTUB32871AHLFT
- 74SSTVF16859NLG8
- 74SSTVF16857PAG
- 74SSTV16857PAG8
- SN74AS181ADWG4
- 74GTLP2033DGVRG4
- SY54016RMG-TR
- MC100EP116MNR4G
- 74GTLP22034DGGRE4
- SY10EL16VDZG TR
- SY10EL16VDZG
- SY100EL16VDZG-TR
- SN74LS283DR
- SN74ABT8543DLR
- SN74AS181ADWE4
- MC10LVEP16DR2G
- MC10H330PG
- MC10EL16DTR2
- SY10EP16VKG-TR
- SY10EL16VBZC
- SY10E416JI-TR
- SY100S336JC
- 74ABT899CSCX
- MC100EP17DWR2G
- SN74GTLP2034GQLR
- SN74ABT8952DL
- SN74ABT8952DW
- IDT74SSTU32865BKG
- 74SSTUBF32868ABKG
- SN74SSTU32866ZKER
- SN74ABT8646DLR