| obraz | KEY Part # / Manufacturer | Popis / PDF | Množství / RFQ |
|---|---|---|---|
 |
Texas Instruments |
IC TXRX ADJ EDGE 8BIT 56BGA. |
6635ks skladem |
 |
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6627ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6618ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6610ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6603ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP. |
6594ks skladem |
 |
Maxim Integrated |
IC DCL QUAD 300MHZ ATE 80TQFP. |
1948ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC TXRX ADDRESS/DATA 9BIT 52-QFP. |
6577ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP. |
6570ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC TXRX ADDRESS/DATA 9BIT 52-QFP. |
6561ks skladem |
 |
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO. |
6553ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO. |
6544ks skladem |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP. |
6537ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP. |
6529ks skladem |
 |
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC. |
6520ks skladem |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC. |
6512ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC. |
6505ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC. |
6496ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP. |
10587ks skladem |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP. |
6480ks skladem |
Klasifikační stránky
- Logika - Speciální logika - Stránka18
- Logika - Speciální logika - Stránka19
- Logika - Speciální logika - Stránka20
- Logika - Speciální logika - Stránka21
- Logika - Speciální logika - Stránka22
- Logika - Speciální logika - Stránka23
- Logika - Speciální logika - Stránka24
- Logika - Speciální logika - Stránka25
- Logika - Speciální logika - Stránka26
- Logika - Speciální logika - Stránka27
success